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      AEC-Q002 Rev B 統計產量分析指南(6頁)

      • GUIDELINES FOR STATISTICAL YIELD ANALYSIS

        AEC-Q002 Rev B 統計產量分析指南(6頁)

        1. 范圍

        本指南旨在用作檢測和去除異常大量材料的方法,從而確保提供的 IC 符合 AEC-Q100 或 AEC-Q101 的質量和可靠性。

        本指南中描述的原則適用于封裝或未封裝芯片。

        1.1 目的

        本指南描述了一種方法,利用基于統計良率限制 (SYL) 和統計倉限 (SBL) 統計計算的統計技術,識別表現出異常低良率或異常高倉故障的晶圓、晶圓批次或組裝批次速度。經驗表明,表現出這些異常特征的晶圓和組裝批次通常質量較差,并可能導致嚴重的系統可靠性和質量問題。

        應用的確切方法可能與本指南中描述的不同,特別是如果分布是非正態的??梢栽诰哂辛己媒y計理由的情況下使用此類衍生方法。供應商應準備好證明所使用的統計方法的合理性。

        注意:為獲得最佳 SYL 和 SBL 結果,請使用基于部件平均測試限值 (PAT) 的測試限值,如 AEC Q001 中所述。

         

      • 法規標準
      • 2021-09-10
      • 電子電氣;機動車
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